設置機器紹介

透過型電子顕微鏡（TEM）

【登録名称】

透過型電子顕微鏡（TEM）

【登録番号】

57

【正式名・メーカー・型式】

JEOL・JEM-2100

【目的】

触媒･光触媒･燃料電池･二次電池･色素増感太陽電池など，エネルギー･環境分野において重要な各種無機材料のナノメートルオーダーの構造解析･組成分析を行う。

【概要・得られる情報】

格子分解能：0.1nm，点分解能：0.23nm，デジタルSTEM観察が可能，STEM分解能0.2 nm。 高分解能観察，形態観察，電子回折，EDS組成マッピング分析，ピエゾ素子のゴニオメータステージによる試料ドリフトの低減されている。 したがって，半導体，バイオ，機能性材料研究で重要なミクロンサイズからナノサイズの形態観察およびEDX分析（元素分布像），さらにはナノビーム回折ができる。 さらに観察技術が高いユーザーには微小領域の観察・高精度分析・電子線回折も行える。

【運営責任者・連絡先】

工業化学科　河合武司 (内線5747)

利用に際して

利用する際には，必ず講習会を受講すること
利用規程を参照 (pdf形式)　マニュアルを参照 (pdf形式)