設置機器紹介

SFG計測システム

【登録名称】

SFG計測システム

【登録番号】

2

【正式名・メーカー・型式】

表面・界面解析用和周波分光システム・PL2143A/PG401DFG・EKSPLA

【概要・得られる情報】

本分光システムはピコ秒Nd-YAGレーザ，波長変換装置，赤外ビーム発生装置および和周波シグナル計測部から構成されている。 可視光 (波長一定) と波長可変の赤外光を試料に照射して，2次の非線形光学効果によって発生した和周波光を検出し，表面・界面の吸着分子 (あるいは官能基) の状態を選択的に測定することができる。 バルク中に吸着分子が存在しても表面・界面の情報のみが得られる。 サブモノレイヤーの感度により，分子種の表面･界面濃度解析が可能である。 また吸着 (修飾) 分子の配向，配置 (絶対方位) の解析にも適している。 気固・気液界面測定は容易に行えるが，液々・固液界面測定の際には工夫が必要である。

【運営責任者・連絡先】

工業化学科　河合武司 (内線5747)

利用に際して

利用希望研究室は随時利用前に講習会に参加し，利用登録してください。 指導教員を通じて河合研まで申し込んでください。 なお利用の際は，利用日の1週間前までに申し込んでください。 簡単な説明書を差し上げます。
利用規程を参照 (pdf形式)　 マニュアルを参照 (pdf形式)　 予約ページ (サイボウズoffice6) へ