設置機器紹介

小角X線回折装置

【登録名称】

小角X線回折装置

【登録番号】

36

【正式名・メーカー・型式】

リガク・Ultimate IV

【目的】

分子集合体あるいは結晶の構造解析，さらにはナノ粒子の粒子径または多孔体の平均細孔径の算出

【原理】

結晶および分子集合体の構造解析は通常のX線の回折パターンと同様である。 ナノオーダー (1〜100 nm程度) の微細な粒子・空孔やこれに相当する大きさで周囲と密度の異なる領域にX線を照射すると，その大きさや形状を反映した散乱(散漫散乱)を生じる。 小角領域 (2θ＜10°) の散乱プロファイルから，粒子・空孔などの大きさや分布を見積もる。

【性能】

・分解能：2θ＝0.1°
・粒径分布解析レンジ：0.5〜100 nm
・感度：高感度検出器
・試料を水平に配置できる

【概要・得られる情報】

分解能2θ＝0.1°で小角領域から測定ができる。 また，試料を水平においた状態で測定できるため，液状試料もそのまま評価できる。 X線を試料に照射させて小角散乱を検出することで，ナノ粒子やナノ多孔体の粒径分布 (0.5〜100 nm) の評価ができる。 高速検出器が搭載されているので，広角領域の回折パターンが高速・高感度で測定できる。

【運営責任者・連絡先】

工業化学科　河合武司 (内線5747)

利用に際して

利用者は所定の講習を受けた方に限ります (講習は随時受けつけます)。 利用に際しては担当者に連絡して予約を取ってください。 なおキャピラリ，試料台は各研究室で準備してください。
利用規程を参照 (pdf形式)　 マニュアルを参照 (pdf形式)