設置機器紹介

走査型電子顕微鏡（SEM-EDS）

【登録名称】

走査型電子顕微鏡（SEM-EDS）

【登録番号】

47

【正式名・メーカー・型式】

JEOL・JSM7001F

【目的】

試料に電子線を照射して二次電子や反射電子，特性Ｘ線を発生させることで，試料の超高分解能形態観察や元素分析を行う。

【概要・得られる情報】

高性能対物レンズを搭載しており，従来の装置に比べ，高倍率・高分解能で観察が可能。 さらに，五つの検出器を使い分けることで様々な像観察もできるようになっている。 また，EDSではスポット分析やライン分析，元素マッピングを行うことができる。

【運営責任者・連絡先】

応用化学科　中井 泉 (内線5761)

利用に際して

毎年4月に開催されている講習会にならず参加すること。希望者多数のため，毎月2回予約優先順位を決めるためのくじ引きを行います。詳細は利用規定を参照のこと。
利用規程を参照 (pdf形式)　マニュアルを参照 (pdf形式)