| 1 | ナノ-ピコ-フェムト秒時間分解分光装置 | TII・ナノ-ピコ-フェムト秒時間分解分光装置 | 5831 | 化学 | 由井 | A |
| 2 | SFG計測システム | EKSPLA・PL2143A/PG401DFG | 5831 | 工業化学 | 河合(武) | A |
| 3 | - | - | - | - | - | - |
| 4 | 核磁気共鳴装置 (全自動400) | Bruker BioSpin・AVANCE 400M | 5833 | 工業化学 | 杉本 | B |
| 5 | 核磁気共鳴装置 (400) | Bruker BioSpin・AVANCE DPX-400 | 5833 | 工業化学 | 近藤 (行) | B |
| 6 | ブルカー固体/溶液 400MHz NMR | AVANCE NEO 400 | 5833 | 化学 | 河合 | B |
| 7 | シーケンシャル型ICP発光分析装置 | SIIナノテク・SPS3520UV | 5839 | 応用化学 | 中井 | C |
| 8 | ICP発光分析装置 | HITACHI・P-4010 | 5839 | 工業化学 | 庄野 | C |
| 9 | ICP質量分析装置 | ICP-MS 7850 | 5839 | 応用化学 | 根岸 | C |
| 10 | 全自動元素分析装置 | Perkin Elmer・2400 II CHNS/O | 5839 | 化学 | 宮村 | C |
| 11 | 赤外吸収装置 | JASCO・FT-IR 466ST | 5839 | 2部化学 | 佐竹 | C |
| 12 | 超高分解能走査電子顕微鏡 | HITACHI・S-5000 | - | - | - | - |
| 13 | 走査電子顕微鏡 | HITACHI・S-2380N | - | - | - | - |
| 14 | ウルトラミクロトーム | Leica・REICHERT-NISSEI ULTRACUT S | 5838 | 応用化学 | 中井 | D |
| 15 | - | - | - | - | - | - |
| 16 | 電子スピン共鳴装置 | JEOL・JES-FA200 | 5835 | 化学 | 榎本 | E |
| 17 | CPAD搭載単結晶X線構造解析装置 | Bruker・D8 QUEST | 5835 | 化学 | 榎本 | E |
| 18 | 自動X線回折装置 (高分子・広角) | Rigaku・RINT2500 | 5835 | 2部化学 | 青木 | E |
| 19 | 自動X線回折装置 (小角・広角) | Rigaku・RINT2500 | - | - | - | - |
| 20 | 自動X線回折装置 (粉末) | Rigaku・RINT2500 | 5835 | 化学 | 由井 | E |
| 21 | 蛍光X線分析装置 | JEOL・JSX-3210 | 5834 | 工業化学 | 国村 | E |
| 22 | 走査型プローブ顕微鏡 | Veeco・NanoScope IIIa | - | - | - | - |
| 23 | 質量分析装置 | JEOL・JMS-AX505HA | 5832 | 化学 | 田所 | A |
| 24 | X線回折カメラシステム | Rigaku・ワイセンベルグ/ガンドルフィーカメラ | 5835 | 応用化学 | 中井 | E |
| 25 | 自動X線回折装置（高分子・小角） | Rigaku・Geiger Flex RAD-IIIA | 5835 | 化学 | 宮村 | E |
| 26 | グローブボックス | 高杉製作所・G-10N-MP-AV-1H-10型 | - | - | - | - |
| 27 | 旋光計 | JASCO・P-1010 Polarimeter | 5839 | 2部化学 | 佐竹 | C |
| 28 | JNM-ECZ400S 核磁気共鳴装置 | JNM-ECZ400S | 5831 | 化学 | 斎藤 | B |
| 29 | 蛍光X線分析装置 | PANanalytical・Epsilon5 | 5834 | 応用化学 | 中井 | E |
| 30 | ICP-MS用レーザーアブレーション装置 | NEW WAVE RESEARCH・UP-213 | 5839 | 応用化学 | 中井 | C |
| 32 | 紫外可視分光光度計 | SHIMADZU・UV-3150PC | 5839 | 化学 | 田所 | C |
| 33 | 分光蛍光光度計 | SHIMADZU・RF-6000 | 5839 | 化学 | 田所 | C |
| 34 | X線分析顕微鏡 | HORIBA・XGT-2700 | 5835 | 応用化学 | 中井 | E |
| 35 | 走査型プローブ顕微鏡（AFM：画像取得用） | SIIナノテク・S-image | 5838 | 応用化学 | 大塚 | D |
| 37 | 共焦点レーザースキャン顕微鏡 | CARL-ZEISS・LSM710 | 5830 | 応用化学 | 大塚 | A |
| 38 | 熱分析システム | Bruker AXS・MS9610/DSC3200A/TG-DTA2010SA | 5830 | 化学 | 田所 | A |
| 39 | 走査電子顕微鏡 | HITACHI・S-4800 | 5830 | 応用化学 | 大塚 | A |
| 40 | 走査型プローブ顕微鏡（AFM：フォース測定用） | アサライム・MFP-3D-BIO-J | 5830 | 応用化学 | 大塚 | A |
| 41 | 分光エリプソメーター | Woollam･M-2000V-SUT | 5830 | 工業化学 | 河合(武) | A |
| 42 | 高速近赤外フォトルミネッセンス測定装置 | SHIMADZU・NIR-PL-System | 5830 | 応用化学 | 根岸 | A |
| 43 | 超高感度等温適定型熱量計 | GEヘルスケア・iTC200 | 5830 | 応用化学 | 鳥越 | A |
| 44 | 蛋白質精製用3波長同時測定液体クロマトグラフィー | GEヘルスケア・AKTApurifier-10 | 5841 | 応用化学 | 鳥越 | 生 |
| 45 | 高分解能ICP質量分析装置 | Nu-Instruments・AttoM | 5839 | 応用化学 | 中井 | C |
| 46 | ESI-TOF-MS | Bruker Daltonics・microTOF-NR-focus | 5839 | 応用化学 | 椎名 | C |
| 47 | 走査型電子顕微鏡（SEM-EDS） | JEOL・JSM7001F | 5838 | 応用化学 | 駒場 | D |
| 48 | フローサイトメーター | BD・FACSCanto II | 5830 | 応用化学 | 大塚 | A |
| 49 | 環境適応型TG測定装置 | Bruker AXS・TG2000SA | 5830 | 化学 | 田所 | A |
| 50 | ナノ秒時間分解分光測定装置 | ユニソク・TSP-1500M-01TO | 5831 | 化学 | 由井 | A |
| 51 | SQUID磁束計 | Quantum Design・MPMS-XL | 5835 | 化学 | 榎本 | E |
| 52 | MALDI-TOF-MS | JEOL・JMS-S3000 | 5839 | 2部化学 | 佐竹 | C |
| 53 | 高周波溶融装置 | TK-4200およびTK-4910 | 5839 | 応用化学 | 中井 | C |
| 54 | DART-TOF-MS | JEOL・AccuTOF JMS-T100LP | 5839 | 応用化学 | 川﨑 | C |
| 55 | 単結晶X線回折装置 | Rigaku・R-AXIS RAPID | 5835 | 化学 | 河合 | E |
| 56 | デスクトップX線回折装置 | Rigaku・MiniFlex600 | 5835 | 2部化学 | 佐々木 | E |
| 57 | 透過型電子顕微鏡（TEM） | JEOL・JEM-2100 | 5838 | 工業化学 | 河合(武) | D |
| 72 | 動的光散乱(DLS)装置 | ゼータサイザーナノZS | 5751 | 2部化学 | 青木 | C |
| 73 | 小型真空蒸着 | VTR-060M/ERH | 5838 | 応用化学 | 根岸 | D |
| 74 | 導電薄膜作製用コンパクトイオンスパッタ装置 | SC-701Mkll ADVANCE | 5838 | 応用化学 | 根岸 | D |
| 75 | ナノ秒発光顕微分光装置 | | | 化学 | 由井 | A |
| 76 | ピコ秒線形顕微分光装置 | | | 化学 | 由井 | A |
| 77 | フェムト秒近赤外顕微分光装置 | | | 化学 | 由井 | A |
